由中华人民共和国科学技术部批准，中国分析测试协会主办、北京理化分析测试技术学会协办的第十四届北京分析测试学术报告会及展览会（BCEIA2011）于2011年10月12日至15日在北京展览馆举行。本届大会主席由中华人民共和国科学技术部副部长王伟中担任。
    BCEIA是国际分析测试领域四大著名国际展之一，与美国PITTCON、日本JAIMA、德国MUNICH三大展览会齐名。从1985年开始，BCEIA每两年举办一次，每届国内、外参会人员达到2万多。26年来在科技部的领导下、国内外各方专家、机构的全力支持和关怀下，BCEIA作为先进分析测试仪器展示的窗口、高水平科学研究成果交流的平台，在促进仪器制造商和用户之间的联系，加强科学家之间的交流，推介新技术新方法，促进我国分析仪器工业的发展等方面，做出了突出的贡献，在国内外分析测试领域具有了较大影响力和凝聚力。
    此次大会是国内外分析测试人员的一次盛会，受到各相关方面的高度关注。来自全国各地的科研机构、高等院校的科技人员，国内外相关企业和有关部门的领导以及国际学者将到会进行参观、交流、咨询和考察调研。
今年在全球金融危机的不利影响下，我国经济发展仍保持较快增长，分析仪器市场依然呈现良好的发展态势。本届展览会规模为历届之最。占地面积19410平方米，11个展厅；设标准展台766个，比上届增长18.4% ；共有16个国家和地区，381家境内外分析仪器厂商参展，境内参展商数与境外参展厂商数之比为2：1，而1985年第一届BCEIA境内参展商数与境外参展厂商数之比为1：9。从中看到我国分析测试技术和仪器制造业发生的巨大变化。本届展出了最新的高水平产品，其中包括：仪器，器材，试剂，软件和技术服务等。国内外著名分析仪器杂志，出版商和网络媒体也积极参展。
 
　　BCEIA 2011主要有以下四大亮点:
 　　(1)本届BCEIA开幕招待会首次在北京饭店举行，将有850多位贵宾应邀出席，届时BCEIA 2011大会主席、科技部副部长王伟中博士将出席并致辞；同时，王副部长还将率领有关司局领导参观BCEIA 2011展览会。
 　　(2)本届BCEIA的三家合作伙伴——美国匹兹堡会议(PITTCON)、日本分析仪器工业会(JAIMA)和德国慕尼黑展览集团(IMAG)都将派出高级代表团参加BCEIA 2011，届时美国PITTCON代表团还将带来PITTCON 2012主席Mr.Jon Peace的祝贺信。
 　　(3)本届BCEIA将首次与日本JAIMA合作组织召开“中日科学仪器发展论坛”。
 　　(4)本届BCEIA将首次与美国PITTCON合作建立一个为仪器制造商和经销商服务的网络平台，并在BCEIA展会期间开始工作。
 
　　BCEIA 2011规模可谓是历届BCEIA之最:
 　　(1)BCEIA 2011占地面积为19410平方米，占用了北京展览馆全部的11个展厅，设标准展台766个，比上届增长了18.4% 。
 　　(2)BCEIA 2011共有来自16个国家和地区的381家国内外分析仪器厂商参展，其中国外参展商有98家，设展台258个；国内参展商有283家，设展台508个。
 　　(3)BCEIA 2011将展出最新的高水平产品，包括仪器、耗材、试剂、软件和服务等；同时国内外著名的分析仪器杂志、出版商和网络媒体也将参展。
 　　在媒体合作方面，本届BCEIA将会与平面媒体、网络媒体、视频媒体等进行多方位合作，全面宣传、介绍、报道BCEIA 2011的盛况。
 
　　中日科学仪器发展论坛:
 　 本届BCEIA新增“中日科学仪器发展论坛”。这是首次举办“中日科学仪器发展论坛”，今年设在中国BCEIA期间，明年则会设在日本JAIMA期间，如此轮流举办，“中日科学仪器发展论坛”将会持续举办下去。“中日科学仪器发展论坛”与一般的应用技术报告会不同，这是一个定位比较高端的论坛活动，将从宏观方面探讨科学仪器的技术创新、发展方向、市场情况等。
 　 今年“中日科学仪器发展论坛”的主题是“科学仪器的创新”，包括企业创新、研发创新等，将邀请中国分析测试协会王顺昌副理事长、科技部科研条件与财务司吴学梯副司长、JAIMA服部重彦会长致辞。
 　 同时，双方将就科学仪器发展规划、产业政策、科学仪器的创新和产业化等问题进行交流。例如，我们中方邀请了中国仪器仪表行业协会闫增序秘书长作中国科学仪器市场报告，中科院大连化物所关亚风研究员则探讨仪器研发如何创新，聚光科技董事长王健先生将就企业创新作报告；而日本方面则会有日本产业基础推进部森本茂雄部长、JAIMA国际委员会川本健志主席、東京大学澤田嗣郎教授出席论坛，就日本在科学仪器方面的政策法规、研发创新及企业创新作精彩报告。 

    光谱分析新技术及应用交流会:
    由北京理化分析测试技术学会与德国斯派克（SPECTRO）分析仪器公司共同组织，“光谱分析新技术及应用交流会”于2011年10月13 日（13:30-16:30）和10月13 日（13:30-16:30）在北京展览馆A号会议室成功举办。此次会议介绍了SPECTRO公司最新分析技术与应用，会议内容包括:德国斯派克新一代全谱直读ICP光谱及全质量数、全同位素同时分析ICP质谱技术及应用和新一代ED（P）XRF在环保监测及地质调查中的分析及应用。此次会议吸引了众多学者参会。