2019年12月17日，2019年度北京电子显微学年会在北京天文馆召开，来自北京市及周边省市的200多位专家学者汇聚一堂，探讨交流电子显微学技术的发展与展望。

        北京理化分析测试技术学会电镜专业委员会荣誉理事长孙异临在开幕式致欢迎辞。北京工业大学张跃飞研究员、北京航空航天大学李晓光教授、北京科技大学王荣明教授、中国科学院生物物理研究所朱平研究员、北京大学高鹏研究员、北京生命科学研究所何万中研究员、中国科学院物理所白雪冬研究员分别带来了“基于扫描电镜高温力学性能原位测试仪器开发与应用”“调控内源神经发生修复中枢神经损伤”“原子尺度功能纳米材料的结构稳定性和演化”“利用冷冻电镜技术解析染色质高级结构”“纳米快电子谱学STEM-EELS测量表面声子极化激元”“新型可克隆电镜标记技术的研发与应用”“功能氧化物的原位透射电子显微学研究”等精彩报告。为了给参会者提供更为直接的交流和应用平台，本次会议设立了电子显微学领域仪器主流仪器展示。

       本次会议交流活跃，展示了最新的研究结果的同时，在讨论和思想碰撞中产生了新思路和新方法。

                                                                                                     会场交流